新井 雅嗣

ときに「泥臭い」と表現される組込み機器開発。ハードウェアと密接な低レイヤーソフト開発のテスト・デバッグでは、自動テスト環境の構築・維持の難しさや、テスト・デバッグごとに実機操作が伴う手間など、現実的なお悩みが散見されます。 そんな組込み開発に、「自動テスト」と「動的解析」のコンビネーション運用をご提案。 組込み機器の操作を自動実行できる自動テスト環境と、ソフトウェアの実機での実行動作をログ収集・解析することで潜在不具合を発見したりカバレッジを計測したりできる動的テストは、まさに相性抜群。 泥臭い課題もスマートに解決しましょう。